电子级气体

甲烷

文字:[大][中][小] 手机页面二维码 2025/7/21     浏览次数:    



  ‌一、基础纯度要求‌

  ≥99.999%(5N级)‌

  基础纯度需满足高纯气体国标(GB/T 387-2017),甲烷体积分数≥99.999%。

  超高纯级(≥99.9995%)‌

  用于半导体光刻胶清洗、非晶硅沉积等尖端领域,需进一步降低痕量杂质。

  

  ‌二、关键杂质限值‌

  ‌

  

杂质类型

‌限值要求

‌检测方法

乙烷(C₂H₆)‌

≤1–5ppm

气相色谱法

氧+氩(O₂+Ar)‌

≤1–5ppm

热导检测器气相色谱法

氮(N₂)‌

≤5–100ppm

红外线气体分析

氢(H₂)‌

≤1–10ppm

化学发光法

水分(H₂O)‌

≤1–5ppm

卡尔·费休法

总碳杂质‌(主要指CO、CO₂等)

≤1ppm

气相色谱法

  

  注‌:部分高端场景(如半导体沉积)要求金属离子(Fe、Na等)≤1 ppb,颗粒物(≥0.1μm)≤0.1个/mL,需通过离子色谱及激光颗粒计数器验证。

  

  ‌三、应用场景与指标关联性‌

  半导体制造‌

  化学气相沉积(CVD)‌:用于生长非晶硅薄膜,纯度不足会导致晶体管性能衰减,需控制乙烷≤1 ppm、水分≤1 ppm。

  等离子刻蚀‌:参与硅晶圆图形化,金属离子超标会引发电路短路。

  光伏与传感器‌

  太阳能电池非晶硅层沉积,杂质氮/氧含量过高会降低光电转换效率。

  校准气体‌

  作为仪器标定基准气时,需总杂质≤10 ppm以保证数据可靠性。

  

  ‌四、包装与储运规范‌

  包装‌:40L特种钢瓶充装,内壁钝化处理防止杂质析出。

  储运‌:避光储存于阴凉通风处,温度≤30℃,避免与氧化剂接触。

  

  ‌五、检测标准依据‌

  纯度与杂质‌:执行GB/T 387-2017《高纯甲烷》。

  痕量分析‌:参考SEMI标准(如金属离子检测采用ICP-MS)。

  电子级甲烷的纯度与杂质控制直接关联终端产品良率,尤其在28nm以下先进制程中,需严格满足99.9995%级指标。

  


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